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二手 日本電子JSM IT-200掃描電子顯微鏡利用聚焦的很窄的高能電子束來掃描樣品, 通過光束與物質(zhì)間的相互作用, 來激發(fā)各種物理信息, 對這些信息收集、放大、再成像以達到對物質(zhì)微觀形貌表征的目的。

二手 日本電子 JSM-7610F plus場發(fā)射電鏡 ?是一種優(yōu)良的電子顯微鏡，其核心原理基于場發(fā)射電子源和電子光學(xué)系統(tǒng)。場發(fā)射電鏡利用強電場作用，使得電子通過量子隧道效應(yīng)逸出，形成高亮度、高相干性且能量分散小的電子束。這種電子源相比傳統(tǒng)的熱發(fā)射電子源，具有更高的亮度和更小的電子束直徑，從而實現(xiàn)更高的分辨率。

二手 日本電子 SEM IT100掃描電鏡主要特點為全數(shù)字化控制系統(tǒng)，高分辨率、高精度的變焦聚光鏡系統(tǒng)、全對中樣品臺及高靈敏度半導(dǎo)體背散射探頭；用于各種材料的形貌組織觀察、金屬材料斷口分析和失效分析。該型號在很多大學(xué)、研究院所及制造業(yè)被廣泛使用。

二手 日立 掃描電鏡SU-3500系列SEM+EDX具有實現(xiàn)了“3 kV加速電壓7 nm分辨率”的全新電子光學(xué)系統(tǒng), 可實現(xiàn)實時立體成像的“實時立體觀察功能”＊1、以及更高檢測效率的 “UVD超高靈敏度可變壓力檢測器”＊1它為觀察和分析提出了嶄新的標準。

二手 FEI 掃描電鏡 QUANTA系列 250研究各種各樣的材料，并進行結(jié)構(gòu)和成份表征，是目前對掃描電鏡 的主流應(yīng)用要求。FEI QuantaTM FEG系列靈活、通用，足以應(yīng)對當(dāng)今人 們廣博的研究方向這一挑戰(zhàn)。“分析任何樣品，得到所有數(shù)據(jù)”， 在Quanta FEG上可得到表面像和成份像，并可輔以多種附件來確定材 料的性質(zhì)和元素組成。

二手 蔡司 SEM SUPRA25 掃描電鏡廣泛地應(yīng)用于金屬材料(鋼鐵、冶金、有色、機械加工)和非金屬材料(化學(xué)、化工、石油、地質(zhì)礦物學(xué)、橡膠、 織、水泥、玻璃纖維)等檢驗和研究。在材料科學(xué)研究、金屬材料、陶瓷材料、半導(dǎo)體材料、化學(xué)材料等領(lǐng)域進行材料的微觀形貌、組織、成分分析，各種材料的形貌組織觀察，材料斷口分析和失效分析，材料實時微區(qū)成分分析，元素定量、定性成分分析。

二手 日本電子 IT-300掃描電鏡經(jīng)過改進照射系統(tǒng)、真空系統(tǒng)和信號處理系統(tǒng)，不僅能觀察高質(zhì)量的圖像，還能利用觸控屏和快速樣品臺進行高通量的直觀操作。JSM-IT300 提供高畫質(zhì)圖像，能滿足您對W-SEM機型的期待，新的鏡筒設(shè)計和掃描系統(tǒng)使得不導(dǎo)電樣品的圖像質(zhì)量有了顯著的提高。

二手FIB+雙束FIB+場發(fā)射電鏡在高科技領(lǐng)域，掃描電鏡（SEM）是揭示材料微觀世界的重要工具。美國FEI公司和賽默飛（Thermo Fisher Scientific）作為電鏡技術(shù)的企業(yè)，其產(chǎn)品在全球范圍內(nèi)被廣泛使用。淮安富匯電子有限公司，作為專業(yè)的第三方供應(yīng)商，現(xiàn)提供現(xiàn)貨供應(yīng)的美國FEI/賽默飛掃描電鏡。

二手SEM+EDX場發(fā)射電鏡:超高分辨率：場發(fā)射掃描電鏡，最大可放大100萬倍，提供超高清晰度的圖像。多功能探頭：配備SE（二次電子）、BSE（背散射）、EDS（能譜）和STEM（掃描透射）探頭，能夠?qū)崿F(xiàn)表面形貌觀察和成分分析。

sigma500 二手蔡司場發(fā)射電鏡是蔡司公司推出的高性能設(shè)備，它采用成熟的GEMINI光學(xué)系統(tǒng)設(shè)計，分辨率超過0.8nm，能提供優(yōu)秀分辨率和分析性能的科研平臺。這款設(shè)備專注于EDS幾何學(xué)設(shè)計，可以獲取分析性能，而且有多種探測器選擇，可以精準匹配您的應(yīng)用程序，獲取微小粒子、表面、納米結(jié)構(gòu)等多種圖像信息